记忆体老化测试装置

摘要

一种记忆体老化测试装置，包括：一机箱、一工业电脑测试系统、一加热系统及一温控系统，该机箱具有一测试室及一容置室，该测试室连通于容置室，该工业电脑测试系统设于测试室内，工业电脑测试系统具有多数个测试基板，该些测试基板上各设有一控制晶片、多数个插槽及多数个记忆体模组，该些记忆体模组各具有一插接部及一电子可擦拭记忆体晶片，该插接部对应地插设于插槽内，该电子可擦拭记忆体晶片电性连接于测试基板，该加热系统设于容置室内，该加热系统具有一加热器及至少一循环风扇，该温控系统设于机箱，温控系统分别电性连接于加热系统及工业电脑测试系统；藉此，可同时针对不同记忆体模组规格及容量大小的进行老化测试，并记录测试资讯。

主权项

1.一种记忆体老化测试装置，包括：一机箱，其具有一测试室及一容置室，该测试室连通于该容置室；一工业电脑测试系统，其设于该测试室内，该工业电脑测试系统具有多数个测试基板，该些测试基板上各设有一控制晶片、多数个插槽及多数个记忆体模组，该些记忆体模组各具有一插接部及一电子可擦拭记忆体晶片，该插接部对应地插设于该插槽内，该电子可擦拭记忆体晶片电性连接于该测试基板；一加热系统，其设于该容置室内，该加热系统具有一加热器及至少一循环风扇；以及一温控系统，其设于该机箱，该温控系统分别电性连接于该加热系统及该工业电脑测试系统。 ;2.如申请专利范围第1项所述之记忆体老化测试装置，其中该测试室内设有一支架，该支架将该测试室区隔为一第一测试舱及一第二测试舱，该支架上设有多数个承载板，该些测试基板固设于该些承载板上。 ;3.如申请专利范围第1项所述之记忆体老化测试装置，其中该工业电脑测试系统具有一控制端及一电源端，该控制端及该电源端系电性连接于该些测试基板。 ;4.如申请专利范围第1项所述之记忆体老化测试装置，其中该些测试基板系使用传输介面RS485。 ;5.如申请专利范围第1项所述之记忆体老化测试装置，其中该些插槽为同步动态随机存取记忆体模组插槽、双通道记忆体模组插槽、第二代双通道记忆体模组插槽或小型记忆体模组插槽。 ;6.如申请专利范围第1项所述之记忆体老化测试装置，其中该些记忆体模组之插接部各包含有一电压源接脚、一参考电压接脚及一测试电压接脚，该电压源接脚、该参考电压接脚及该测试电压接脚系电性连接于该测试基板。;第一图为记忆体寿命周期之曲线图。;第二图为本创作记忆体老化测试装置的示意图。;第三图为本创作记忆体老化测试装置之平面示意图。;第四图为本创作承载板及测试基板之立体示意图。;第五图为本创作测试基板之立体图。;第六图为本创作测试基板及记忆体模组之示意图。;第七图为本创作记忆体模组之平面图。;第八图为本创作温控系统及工业电脑测试系统之示意图。