发明名称 | 一种基准阵列测量系统和测量方法 | ||
摘要 | 一种基准阵列测量系统,其包括测量平台、设置在所述测量平台之上的基准元件,所述基准元件以阵列形式设置在所述测量平台上,每个基准元件包括固定端和测量端,所述固定端埋入测量平台之内并且与测量平台刚性连接,所述测量端露在测量平台之外。一种基准阵列测量方法,该方法包括利用基准阵列测量系统分别测量两个点在测量坐标系下的坐标,将测得的两个点的坐标均转换到基准坐标系下,最后计算两点间的距离。本发明的基准阵列测量系统和测量方法的有益效果在于,提供了一种避免测量过程中变换坐标系的测量系统和测量方法,该测量系统和测量方法既可以移动测量设备而又无需重新标定坐标系,从而可以大大提高测量效率。 | ||
申请公布号 | CN101782358A | 申请公布日期 | 2010.07.21 |
申请号 | CN200910045880.3 | 申请日期 | 2009.01.21 |
申请人 | 上海通用汽车有限公司;泛亚汽车技术中心有限公司 | 发明人 | 闫占功;杨宇光;高建远;盛晶晶 |
分类号 | G01B5/004(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/004(2006.01)I |
代理机构 | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人 | 黄泽雄;崔华 |
主权项 | 一种基准阵列测量系统,其包括测量平台、设置在所述测量平台之上的基准元件,其特征在于:所述基准元件以阵列形式设置在所述测量平台上,每个基准元件包括固定端和测量端,所述固定端埋入测量平台之内并且与测量平台刚性连接,所述测量端露在测量平台之外。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区申江路1500号 |