发明名称 半导体装置
摘要 本发明揭示一种半导体装置及其形成方法,其包含嵌入式的金属-绝缘体-金属电容器于逻辑电路中,此半导体装置包含:衬底,包含邻接半导体区的绝缘体区;下电极,其包含第一导体,位于绝缘体区上;绝缘层,位于绝缘体区、半导体区、及下电极上,其中绝缘层包括第一开口及第二开口,第一开口露出部分的下电极,第二开口露出半导体区;介电膜,沿着第一开口及第二开口延伸,位于下电极与半导体区上,分别作为电容器介电膜与栅极介电质,其中介电膜直接位于第一开口及第二开口的侧壁上;以及第二导体,位于第一开口及第二开口内的电容器介电膜与栅极介电质上,分别作为电容器结构的上电极、与晶体管结构的真实栅极。
申请公布号 CN101232015B 申请公布日期 2010.07.21
申请号 CN200710104211.X 申请日期 2007.05.23
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 涂国基
分类号 H01L27/00(2006.01)I;H01L27/01(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I;H01L27/08(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I 主分类号 H01L27/00(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 陈晨
主权项 一种半导体装置,包含:衬底,包含邻接半导体区的绝缘体区;下电极,其包含第一导体,位于该绝缘体区上;绝缘层,位于该绝缘体区、该半导体区、及该下电极上,其中该绝缘层包括第一开口及第二开口,该第一开口露出部分的该下电极,该第二开口露出该半导体区;介电膜,沿着该第一开口及第二开口延伸,位于该下电极与该半导体区上,分别作为电容器介电膜与栅极介电质,其中该介电膜直接位于该第一开口及第二开口的侧壁上;以及第二导体,位于该第一开口及第二开口内的该电容器介电膜与该栅极介电质上,分别作为电容器结构的上电极、与晶体管结构的真实栅极。
地址 中国台湾新竹市
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