发明名称 |
半导体装置 |
摘要 |
本发明揭示一种半导体装置及其形成方法,其包含嵌入式的金属-绝缘体-金属电容器于逻辑电路中,此半导体装置包含:衬底,包含邻接半导体区的绝缘体区;下电极,其包含第一导体,位于绝缘体区上;绝缘层,位于绝缘体区、半导体区、及下电极上,其中绝缘层包括第一开口及第二开口,第一开口露出部分的下电极,第二开口露出半导体区;介电膜,沿着第一开口及第二开口延伸,位于下电极与半导体区上,分别作为电容器介电膜与栅极介电质,其中介电膜直接位于第一开口及第二开口的侧壁上;以及第二导体,位于第一开口及第二开口内的电容器介电膜与栅极介电质上,分别作为电容器结构的上电极、与晶体管结构的真实栅极。 |
申请公布号 |
CN101232015B |
申请公布日期 |
2010.07.21 |
申请号 |
CN200710104211.X |
申请日期 |
2007.05.23 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
涂国基 |
分类号 |
H01L27/00(2006.01)I;H01L27/01(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I;H01L27/08(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/00(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
陈晨 |
主权项 |
一种半导体装置,包含:衬底,包含邻接半导体区的绝缘体区;下电极,其包含第一导体,位于该绝缘体区上;绝缘层,位于该绝缘体区、该半导体区、及该下电极上,其中该绝缘层包括第一开口及第二开口,该第一开口露出部分的该下电极,该第二开口露出该半导体区;介电膜,沿着该第一开口及第二开口延伸,位于该下电极与该半导体区上,分别作为电容器介电膜与栅极介电质,其中该介电膜直接位于该第一开口及第二开口的侧壁上;以及第二导体,位于该第一开口及第二开口内的该电容器介电膜与该栅极介电质上,分别作为电容器结构的上电极、与晶体管结构的真实栅极。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |