发明名称 |
高电压应力测试电路 |
摘要 |
本发明涉及高电压应力测试电路。一种高电压应力测试电路,包括:内部数据生成单元,其用于生成内部数据和反转内部数据;以及电平移位器,其用于接收内部数据和反转内部数据,并生成数字数据和反转数字数据。在正常模式下,内部数据和反转内部数据具有对应于输入数据的逻辑状态,而数字数据和反转数字数据具有对应于内部数据和反转内部数据的逻辑状态。在高电压应力测试模式下,内部数据和反转内部数据具有预定的逻辑状态,而与输入数据的逻辑状态无关;并且数字数据和反转数字数据具有预定的逻辑状态,而与内部数据的逻辑状态和反转内部数据的逻辑状态无关。 |
申请公布号 |
CN101488467B |
申请公布日期 |
2010.07.14 |
申请号 |
CN200810185661.0 |
申请日期 |
2008.12.19 |
申请人 |
(株)提尔爱 |
发明人 |
全龙源 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
一种高电压应力测试电路,该高电压应力测试电路包括:内部数据生成单元,其使用低电源电压作为上拉电压来生成内部数据和反转内部数据;以及电平移位器,其用于接收所述内部数据和所述反转内部数据,并且用于生成上拉电压被电平移位至高电源电压的数字数据和反转数字数据,其中,在正常模式下,所述内部数据和所述反转内部数据具有对应于输入数据的逻辑状态,在高电压应力测试模式下,所述内部数据和所述反转内部数据具有预定的逻辑状态,而与所述输入数据的逻辑状态无关,在所述正常模式下,所述数字数据和所述反转数字数据分别具有对应于所述内部数据和所述反转内部数据的逻辑状态,并且在所述高电压应力测试模式下,所述数字数据和所述反转数字数据具有预定的逻辑状态,而与所述内部数据的逻辑状态和所述反转内部数据的逻辑状态无关。 |
地址 |
韩国京畿道 |