发明名称 |
采用维恩位移定律进行光谱测温的方法 |
摘要 |
采用维恩位移定律进行光谱测温的方法,它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄,而且需要标定的问题。本发明方法的步骤如下:被测物体的红外辐射射线经聚光镜汇进入傅立叶分析光谱仪,傅立叶分析光谱仪进行光谱扫描,光谱曲线记录并存入计算机,计算机通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体的温度,最后在显示屏上显示被测物体的温度。本发明方法测量温度的范围为300~3000K。本发明具有测量精度高、测量范围宽的优点,而且测量时不需要标定。 |
申请公布号 |
CN101000264B |
申请公布日期 |
2010.07.14 |
申请号 |
CN200710071635.0 |
申请日期 |
2007.01.15 |
申请人 |
哈尔滨工业大学 |
发明人 |
戴景民;齐宏;刘晓东;谈和平 |
分类号 |
G01J5/00(2006.01)I;G01J5/46(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01J5/00(2006.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
韩末洙 |
主权项 |
采用维恩位移定律进行光谱测温的方法,其特征在于测量温度的方法的步骤如下:被测物体(1)的红外辐射射线(2)经聚光镜(3)汇进入傅立叶分析光谱仪(4),傅立叶分析光谱仪(4)进行光谱扫描,光谱曲线记录并存入计算机(5),计算机(5)通过光谱曲线的峰值波长根据维恩位移定律直接计算得到被测物体(1)的温度,最后在显示屏(6)上显示被测物体(1)的温度。 |
地址 |
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |