| 发明名称 | TFT-LCD阵列基板及其制造方法和测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种TFT-LCD阵列基板及其制造方法和测试方法。所述TFT-LCD阵列基板，包括显示区域和外围区域，所述外围区域内设置有至少一条第一测试线和/或至少一条第二测试线，所述第一测试线平行于数据线，栅线和/或像素电极与至少一条所述第一测试线交叠；所述第二测试线平行于栅线，所述数据线与至少一条第二测试线交叠。本发明通过在外周区域设置测试线，有效解决现有技术不能对液晶面板内信号进行测试的技术缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN101770122A | 申请公布日期 | 2010.07.07 |
| 申请号 | CN200810247424.2 | 申请日期 | 2008.12.31 |
| 申请人 | 北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 赵继刚;徐宇博 |
| 分类号 | G02F1/1362(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/1362(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人 | 刘芳 |
| 主权项 | 一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区域和外围区域，其特征在于，所述外围区域内设置有至少一条第一测试线和/或至少一条第二测试线，所述第一测试线平行于数据线，栅线和/或像素电极与至少一条所述第一测试线交叠；所述第二测试线平行于栅线，所述数据线与至少一条第二测试线交叠。 | ||
| 地址 | 100176北京市经济技术开发区西环中路8号 | ||