| 摘要 |
A INVENÆO APRESENTADA é DESTINADA A UM MICROELéCTRODO SELECTIVO DE IŽES DE CONTACTO SËLIDO EM FORMA DE AGULHA EM QUE DE PREFER—NCIA, MAS N†O LIMITADO A ESSE, O COMPRIMENTO DO PONTO DE MEDIÆO é IGUAL OU INFERIOR A 10 MICRËMETROS, EM PARTICULAR ENTRE 0,5 - 10 MICRËMETROS, A UM MéTODO PARA PRODUÆO DESSE ELéCTRODO E UTILIZAÆO DE UM MICROELéCTRODO SELECTIVO DE IŽES DE CONTACTO SËLIDO COMO ELéCTRODO DE TRABALHO EM DIFERENTES SISTEMAS DE MEDIÆO COM VARRIMENTO, TAIS COMO O SECM, O SIET, O MIFE E OUTROS, PARA MEDIR A ACTIVIDADE(CONCENTRAÆO) DE DIFERENTES IŽES NOS MODOS DE VARRIMENTO TRIDIMENSIONAL DO GRADIENTE, VARRIMENTO BIDIMENSIONAL DO PLANO, PERFIL VERTICAL OU HORIZONTAL, MEDIDAS DE UM PONTO OU QUALQUER OUTRA MEDIDA PONTO A PONTO SOBRE UMA SUPERF�CIE ACTIVA. POR EXEMPLO, A PRESENTE INVENÆO PRETENDE SUBSTITUIR OS MICROELéCTRODOS DE CAPILAR DE VIDRO UTILIZADOS EM MEDIDAS LOCALIZADAS. O MICROELéCTRODO DA INVENÆO APRESENTADA DIFERE NOS SEUS PRINC�PIOS DE CONSTRUÆO E DE PRODUÆO EM OPOSIÆO A OUTROS ELéCTRODOS SELECTIVO DE IŽES DE CONTACTO SËLIDO. A INVENÆO DESCREVE UM SUBSTRATO R�GIDO ELECTRICAMENTE CONDUTOR EM FORMA DE AGULHA (1); UMA CAMADA DE ISOLAMENTO (4), EXCEPTO NA EXTREMIDADE DO REFERIDO SUBSTRATO (3); UMA CAMADA ELECTRICAMENTE CONDUTORA (6); E UMA CAMADA DE MEMBRANA SELECTIVA DE IŽES (7).
|
