发明名称 |
一种B和N共掺杂ZnO薄膜的制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种B和N共掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:(1)选用ZnO或Si或GaAs或蓝宝石衬底材料,将其表面清洗后,放入金属有机物化学气相沉积系统的反应室中,生长室抽真空到10-4Pa,衬底温度到400℃,(2)加热反应室使其温度为400~1000℃,生长压强为40~60Torr,在衬底表面沉积ZnO缓冲层,然后在ZnO缓冲层上沉积B、N、Zn、O材料,形成Zn1-x-yBxNyO层,0.03≤x≤0.13,0.03≤y≤0.13,制备成B和N共掺杂ZnO薄膜。本发明的共掺杂B和N的ZnO薄膜表现出更好的p型特性。 |
申请公布号 |
CN101760726A |
申请公布日期 |
2010.06.30 |
申请号 |
CN200910214541.3 |
申请日期 |
2009.12.31 |
申请人 |
华南师范大学 |
发明人 |
孙慧卿;邓贝;王雨田;郭志友;陈鹏;孔利平 |
分类号 |
C23C16/30(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/30(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
代理人 |
何淑珍;廖继海 |
主权项 |
一种B和N共掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:(1)选用ZnO或Si或GaAs或蓝宝石衬底材料,将其表面清洗后,放入金属有机物化学气相沉积系统的反应室中,生长室抽真空到10-4Pa,衬底温度到400℃,(2)加热反应室使其温度为400~1000℃,生长压强为40~60Torr,在衬底表面沉积ZnO缓冲层,然后在ZnO缓冲层上沉积B、N、Zn、O材料,形成Zn1-x-yBxNyO层,0.03≤x≤0.13,0.03≤y≤0.13,制备成B和N共掺杂ZnO薄膜。 |
地址 |
510631 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号 |