发明名称 光学系统、光学拾取装置、和光盘装置
摘要 本发明公开了一种用于从包括信号光分量和杂光分量的光束中提取信号光分量的光学系统。该光学系统包括:聚光光学元件,位于所述光束的光径上,用于会聚所述光束;偏振改变单元,用于改变在穿过聚光光学元件的入射光束中包括的信号光分量和杂光分量中的至少一个的偏振态;以及提取元件,用于提取在穿过该偏振改变单元的光束中包括的信号光分量。
申请公布号 CN1957404B 申请公布日期 2010.06.23
申请号 CN200680000238.8 申请日期 2006.03.02
申请人 株式会社理光 发明人 小形哲也
分类号 G11B7/135(2006.01)I 主分类号 G11B7/135(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 吕晓章;邵亚丽
主权项 一种用于从包括信号光分量和杂光分量的光束中提取信号光分量的光学系统,该光学系统包括:聚光光学元件,位于所述光束的光径上,用于会聚所述光束;偏振改变单元,用于改变在穿过所述聚光光学元件的入射光束中包含的信号光分量和杂光分量中的至少一个的偏振态;以及提取元件,用于提取在穿过所述偏振改变单元的光束中包含的信号光分量,其中所述偏振改变单元包括第一和第二偏振改变元件;其中所述第一和第二偏振改变元件中的每个都包括第一和第二区域,所述第一和第二区域由与所述聚光光学元件的光轴垂直相交的线所划分;其中所述第一偏振改变元件位于第一焦点和第二焦点之间,该第二焦点比第一焦点更接近所述聚光光学元件定位;其中第一焦点是信号光分量所会聚的位置,而且第二焦点是杂光分量所会聚的位置;其中第二偏振改变元件位于第一焦点和第三焦点之间,该第三焦点比第一焦点更接近所述提取元件定位,该第三焦点是杂光分量所会聚的另一位置。
地址 日本东京都