| 发明名称 | 一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法，其特征在于，该方法包括下述步骤为：第1步以TlBr为原料，配制Tl(III)的母液，母液中含Tl(III)量为1～3mg/mL；第2步以母液1mL计，在1mL母液中加入10mL浓度为3.6～8.1mol/L的HBr和10～35mL的异丙醚，振荡均匀，静置分层后分离出水相；第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。本发明方法可使溴化铊材料中的基体元素铊的含量达到ICP-MS的测试要求，检测出材料中的各杂质的含量。 | ||
| 申请公布号 | CN101750409A | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
| 申请号 | CN200910273200.3 | 申请日期 | 2009.12.14 |
| 申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 周东祥;郑志平;龚树萍;蒙芳;胡云香 |
| 分类号 | G01N21/73(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/73(2006.01)I |
| 代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 曹葆青 |
| 主权项 | 一种测量溴化铊材料中杂质含量的方法，其特征在于，该方法包括下述步骤为：第1步以TlBr为原料，配制Tl(III)的母液，母液中含Tl(III)量为1～3mg/mL；第2步以母液1mL计，在1mL母液中加入10mL浓度为3.6～8.1mol/L的HBr和10～35mL的异丙醚，振荡均匀，静置分层后分离出水相；第3步利用电感耦合等离子体质谱仪测量水相中各杂质的含量。 | ||
| 地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 | ||