发明名称 瑕疵检测装置
摘要 以下内容揭露一种瑕疵检测装置,至少包含一基座、一进出料机构、一照明元件、一摆动架以及一驱动机构。进出料机构设置于基座上,用以移动一待测元件。照明元件用以朝待测元件发射一光线。照明元件设置于摆动架之一侧,摆动架之另一侧枢接于基座。驱动机构用以带动摆动架相对于基座摆动,以改变照明元件发射光线之一发光角度,藉以由不同角度检测待测元件之表面瑕疵。
申请公布号 TWM383130 申请公布日期 2010.06.21
申请号 TW099200190 申请日期 2010.01.06
申请人 台湾仿真科技股份有限公司 发明人 陈金圣;黄建量;陈育玮
分类号 G02F1/133 主分类号 G02F1/133
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项 一种瑕疵检测装置,至少包含:一基座;一进出料机构,设置于该基座上,用以移动一待测元件;一第一照明元件,用以朝该待测元件发射一第一光线;一第一摆动架,该第一照明元件设置于该第一摆动架之一侧,该第一摆动架之另一侧枢接于该基座;一第一驱动机构,用以带动该第一摆动架相对于该基座摆动,以改变该第一照明元件发射该第一光线之一发光角度;一撷取元件,与该第一照明元件位于该待测元件之同侧,用以接收由该待测元件反射后之该第一光线,以撷取该待测元件之一影像,藉以检测该待测元件之表面瑕疵;一第二摆动架,该撷取元件设置于该第二摆动架之一侧,该第二摆动架之另一侧枢接于该基座;以及一第二驱动机构,用以带动该第二摆动架相对于该基座摆动,以改变该撷取元件撷取该影像之一撷取角度,其中该第一摆动架及该第二摆动架之摆动轴心相重合。
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