| 发明名称 |
Verfahren zum Testen der ordnungsgemäßen Funktionsweise einer Halbleiterschaltung sowie dafür geeignete Halbleiterschaltung |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10331830(B4) |
申请公布日期 |
2010.06.17 |
| 申请号 |
DE20031031830 |
申请日期 |
2003.07.14 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
LABATE, FRANCESCO;GRILLO, SANDRO;BERNARDON, DEREK |
| 分类号 |
G01R31/3185;G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/319;G06F11/267 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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