发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR IN-SITU PROBE TIP REPLACEMENT INSIDE A CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE
摘要
申请公布号 EP1782435(A4) 申请公布日期 2010.06.16
申请号 EP20050773762 申请日期 2005.07.21
申请人 OMNIPROBE, INC. 发明人 MOORE, THOMAS M.;ZAYKOVA-FELDMAN, LYUDMILA
分类号 G21K7/00 主分类号 G21K7/00
代理机构 代理人
主权项
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