| 发明名称 | 光盘检查装置及检查方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种光盘检查装置及检查方法，迅速检查光盘是否有缺陷，以保证在多种光盘装置中能够重放。检测部(52)利用来自重放部(50)的信号，根据RF信号、聚焦错误信号、跟踪错误信号，从光盘的内周向着外周分别检测缺陷。CPU(54)在存储器(56)中存储缺陷的位置。重放部(50)在缺陷的位置使重放条件劣化而重放数据。检测部(52)检查此时的错误率，最终判断光盘的OK/NG。 | ||
| 申请公布号 | CN101727945A | 申请公布日期 | 2010.06.09 |
| 申请号 | CN200910173262.7 | 申请日期 | 2009.09.22 |
| 申请人 | 蒂雅克股份有限公司 | 发明人 | 上野圭司 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 谢丽娜;关兆辉 |
| 主权项 | 一种光盘检查装置，检查光盘的缺陷，其特征在于，具有：缺陷检测单元，从光盘的内周到外周检测上述光盘的缺陷；存储单元，存储检测出的上述缺陷的位置；以及错误率检测单元，在上述缺陷的位置使重放条件劣化，而从上述光盘重放数据并检测错误率。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||