发明名称 |
碳化硅基片的抛光液 |
摘要 |
本发明涉及光电子领域使用的碳化硅基片加工中抛光液的配方。碳化硅基片抛光液由:颗粒直径为20纳米~50纳米溶胶型二氧化硅(SiO2),去离子水,氢氧化钠(NaOH),聚氧乙烯酰胺组成。它们的质量比是:二氧化硅∶去离子水∶氢氧化钠∶聚氧乙烯酰胺=1∶2∶0.01∶0.06。使用本抛光液进行抛光,不仅能够有效消除碳化硅基片磨削过程中产生的加工损伤层,保证基片抛光面的粗糙度(RMS)<0.3纳米,同时能够缩短碳化硅基片的抛光时间,降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN101724344A |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200810155745.X |
申请日期 |
2008.10.14 |
申请人 |
周海 |
发明人 |
周海 |
分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
主分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
碳化硅基片的抛光液组成是:颗粒直径为20纳米~50纳米溶胶型二氧化硅(SiO2),去离子水,氢氧化钠(NaOH),聚氧乙烯酰胺。它们的质量比是:二氧化硅∶去离子水∶氢氧化钠∶聚氧乙烯酰胺=1∶2∶0.01∶0.06。 |
地址 |
224051 江苏省盐城市希望大道盐城工学院机械学院025信箱 |