发明名称 适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法
摘要 提供一种适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法。处理部在遮断向壳体入射的光后获取在与来自分光器的光的入射面对应的第一检测区域检测到的第一光谱和在与来自分光器的光的入射面不同的第二检测区域检测到的第一信号强度,接着,从第一光谱的各成分值中减去根据第一信号强度算出的第一校正值来算出第一校正光谱。处理部在打开遮断部的状态下获取在第一检测区域检测到的第二光谱和在第二检测区域检测到的第二信号强度,接着,从第二光谱的各成分值中减去根据第二信号强度算出的第二校正值来算出第二校正光谱。最终,处理部从第二校正光谱的各成分值中减去第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。
申请公布号 CN101726361A 申请公布日期 2010.06.09
申请号 CN200910178173.1 申请日期 2009.10.15
申请人 大电子株式会社 发明人 佐野弘幸;大川内真;大岛浩正;大久保和明;水口勉;志摩史郎
分类号 G01J3/28(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 代理人 刘新宇;陈立航
主权项 一种光学特性测定装置,具备:壳体;分光器,其配置在上述壳体内;遮断部,其用于遮断从上述壳体的外部向上述分光器入射的光;光检测器,其配置在上述壳体内,用于接收由上述分光器分光而得到的光;以及处理部,其用于输出上述光检测器的检测结果,其中,上述光检测器具有范围比来自上述分光器的光的入射面大的检测面,上述处理部进行以下处理:在遮断向上述壳体入射的光之后,获取在与来自上述分光器的光的入射面对应的第一检测区域中检测到的第一光谱和在与来自上述分光器的光的入射面不同的第二检测区域中检测到的第一信号强度;通过从上述第一光谱的各成分值中减去根据上述第一信号强度而算出的第一校正值来算出第一校正光谱;在打开上述遮断部的状态下获取在上述第一检测区域中检测到的第二光谱和在上述第二检测区域中检测到的第二信号强度;通过从上述第二光谱的各成分值中减去根据上述第二信号强度而算出的第二校正值来算出第二校正光谱;以及通过从上述第二校正光谱的各成分值中减去上述第一校正光谱的对应的成分值来算出作为测定结果的输出光谱。
地址 日本大阪府