| 发明名称 |
Screening of Silicon Wafers Used in Photovoltaics |
| 摘要 |
A method for screening silicon-based wafers used in the photovoltaic industry is provided herewith.
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| 申请公布号 |
US2010136715(A1) |
申请公布日期 |
2010.06.03 |
| 申请号 |
US20060722981 |
申请日期 |
2006.07.28 |
| 申请人 |
MIDWEST RESEARCH INSTITUTE |
发明人 |
SOPORI BHUSHAN L.;SHELDON PETER |
| 分类号 |
H01L31/18;G01N3/60;H01L21/66 |
主分类号 |
H01L31/18 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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