| 发明名称 | 测位仪以及用于校准测位仪的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议，该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外，本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法，其中，只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。 | ||
| 申请公布号 | CN1954240B | 申请公布日期 | 2010.05.26 |
| 申请号 | CN200580015139.2 | 申请日期 | 2005.03.21 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | U·斯库尔特蒂-贝茨;B·哈泽;M·马勒;U·霍夫曼;R·克拉普夫;C·韦兰 |
| 分类号 | G01V3/15(2006.01)I;G01V3/08(2006.01)I | 主分类号 | G01V3/15(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 曹若;胡强 |
| 主权项 | 用于对于被包围在一种介质(66)中的物体进行探测的测位仪，它具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置，以及具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元，其特征在于，该探测仪(56、57、58)具有一个第二探测装置(62、68、80、81)，这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的可预定的距离d进行探测成为可能，其中，设有装置，该装置保证所述测位仪在校准测量的情况下被设置成能够进行用于校准所述测量仪的基准测量。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||