半导体装置电源及接地连续性之测试方法

摘要

本发明提供一种半导体装置电源及接地连续性之测试方法，该半导体装置具有输入及输出(IO)接脚及至少一对电源及接地接脚，该方法包括识别该装置之电源及接地接脚。自该装置之IO接脚为每一对电源及接地接脚选择一受损者接脚，且自剩余IO接脚为每一受损者接脚选择一入侵者接脚。使该等入侵者接脚在一高状态与一低状态之间轮转。量测每一受损者接脚上之切换杂讯位准，且将所量测之切换杂讯位准与预定资料进行比较以判定该装置之电源及接地连续性。

主权项

一种半导体装置电源及接地连续性之测试方法，该装置具有复数个输入及输出(IO)接脚及至少一对电源及接地接脚，该方法包含：识别该装置之该等电源接脚及该等接地接脚；自该装置之该等IO接脚为该等电源接脚及该等接地接脚中之每一者选择一受损者接脚；自该等剩余IO接脚为每一受损者接脚选择至少一入侵者接脚；使该等入侵者接脚在一第一状态与一第二状态之间轮转；量测每一受损者接脚上之一切换杂讯位准；及将该等所量测之切换杂讯位准与预定资料进行比较以判定该装置之电源及接地连续性。