| 发明名称 | 温度控制装置和方法、电子部件试验装置和方法及处理机 | ||
| 摘要 | 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。 | ||
| 申请公布号 | CN1853111B | 申请公布日期 | 2010.04.28 |
| 申请号 | CN200480026769.5 | 申请日期 | 2004.08.18 |
| 申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 安东正和;高桥弘行;山下毅;桥本隆志 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 吴丽丽 |
| 主权项 | 一种温度控制装置，在向被试验电子部件发送测试图并通过检测其响应图来执行所述被试验电子部件的测试的电子部件试验装置中使用，包括：被设置为与所述被试验电子部件接触的温度调节器；和控制所述温度调节器的消耗电力以使基于所述测试图的所述被试验电子部件的消耗电力和所述温度调节器的消耗电力的总电力成为一定值的电力控制部件。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||