摘要 |
Eine Vorrichtung (1) zur Messung elektrischer Kenngrößen, mit einer ersten Wandlereinheit (2), welche analoge Signale (Uin) in erste digitale Daten (MDAT_1) umwandelt, wobei die erste Wandlereinheit (2) ein Sigma-Delta-Modulator (2) ist, einer zweiten Wandlereinheit (4), welche analoge Signale (Uin) in zweite digitale Daten (MDAT_2) umwandelt, wobedulator (4) ist und mit wenigstens einer Auswertelogik (6) zur Bearbeitung der von den Wandlereinheiten (2, 4) ausgegebenen Signale (MDAT_1, MDAT_2), wobei die Auswertelogik (6) wenigstens ein Integrationsglied (12a, 12b, 12c) und ein diesem Integrationsglied (12a, 12b, 12c) nachgeschaltetes Differenzierglied (14b, 14c) aufweist. Erfindungsgemäß bearbeitet die Auswertelogik (6) die digitalen Signale (MDAT_1, MDAT_2) beider Wandlereinheiten (2, 4) und die Wandlereinheiten (2, 4) weisen jeweils Eingänge für ein Taktsignal auf, wobei eine Taktgebereinrichtung vorgesehen ist, welche die erste Wandlereinheit (2) und die zweite Wandlereinheit (4) in einem vorgegebenen Verhältnis zueinander taktet.
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