发明名称 |
电子装置、电子装置的测试方法 |
摘要 |
本发明提供电子装置、电子装置的测试方法,该电子装置具有:接收信号的接收器(3);输出信号的驱动器(2);以及具有与接收器(3)的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部(10)和具有与接收器(3)的输出端连接的相位检测器的抖动测定部(20)中的至少一方,通过将驱动器(2)的输出端(2a)和接收器(3)的输入端(3a)连接,进行驱动器输出的振幅和抖动中的至少一方的测定。 |
申请公布号 |
CN101680923A |
申请公布日期 |
2010.03.24 |
申请号 |
CN200780053311.2 |
申请日期 |
2007.06.12 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
矢越辉昭;除村均 |
分类号 |
G01R29/02(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/319(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
黄纶伟 |
主权项 |
1.一种电子装置,其特征在于,所述电子装置具有:接收信号的接收器;输出信号的驱动器;以及具有与所述接收器的输入端连接的振幅检测器的振幅测定部和具有与所述接收器的输出端连接的相位检测器的抖动测定部中的至少一方,通过将所述驱动器的输出端和所述接收器的输入端连接,来进行驱动器输出的振幅和抖动中的至少一方的测定。 |
地址 |
日本神奈川县 |