发明名称 用于半导体领域的新型钴前体
摘要 本发明公开了在一个或多个基底上沉积含钴膜的方法和组合物。将钴前体(包含至少一个与钴偶合的环戊二烯基配体以利于热稳定性)引入装有一个或多个基底的反应室中,并使该钴前体沉积,以在基底上形成含钴膜。
申请公布号 CN101680085A 申请公布日期 2010.03.24
申请号 CN200880016811.3 申请日期 2008.05.21
申请人 乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司 发明人 C·迪萨拉
分类号 C23C16/18(2006.01)I;C23C16/40(2006.01)I;C23C16/30(2006.01)I;C07F15/06(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I 主分类号 C23C16/18(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 林柏楠;刘金辉
主权项 1.在一个或多个基底上沉积含钴膜的方法,包括:a)将钴前体引入装有一个或多个基底的反应室中,其中所述钴前体包含具有下式的化合物:(RyOP)x(RtCp)zCoR’u其中-RyOP是被取代或未被取代的戊二烯基(Op)配体,其中独立选择的y个R配体在戊二烯基配体上任何位置中;-RtCp是被取代或未被取代的环戊二烯基(Cp)配体,其中独立选择的t个R配体在环戊二烯基配体上任何位置中;-R是配体,独立地选自由具有1至4个碳原子的烷基、氢基、烷基酰胺、烷氧基、烷基甲硅烷基酰胺、脒基、异腈和羰基组成的组,且其中各R可与另一个R相同或不同;-R’是配体,选自由具有偶数个π键的具有1至4个碳原子的烷基组成的组,且其中各R’可与另一个R’相同或不同;-y是0至7的整数;-x是0至1的整数;-t是0至5的整数;-z是0至1的整数;和-u是1至2的整数;和b)使钴前体沉积,以在一个或多个基底上形成含钴膜。
地址 法国巴黎