发明名称 |
长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法 |
摘要 |
本发明涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置及其测试方法,更确切地说是在正常照明条件下,全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置及测试方法的发明。它由模拟D<sub>65</sub>光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D<sub>65</sub>光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D<sub>65</sub>光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本发明其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。 |
申请公布号 |
CN100594371C |
申请公布日期 |
2010.03.17 |
申请号 |
CN03100491.1 |
申请日期 |
2003.01.16 |
申请人 |
北京师范大学 |
发明人 |
张保洲;王术军;刘宏亮;蒋静芬;李子英 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01J3/443(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置,包括有模拟D65光源、光度计、照度监视器和计算机CPU,其特征在于:模拟D65光源通过激发路光纤分别与照度监视器、测试器连接,测试器经测量路光纤接光度计,测试器由样品托和连接件构成,圆筒状样品托的内底周边凹槽和圆柱状连接件的柱底周边凸起相配合,与测量路光纤构成一封闭结构,完全屏蔽外界照明光对样品的影响,光度计、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。 |
地址 |
100875北京市海淀区北京师范大学 |