发明名称 |
Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium und Verfahren für deren Herstellung |
摘要 |
Gegenstand der Erfindung ist eine Halbleiterscheibe aus einkristallinem Silizium, die mit Stickstoff dotiert ist. Die Halbleiterscheibe weist ein OSF-Gebiet und ein Pv-Gebiet auf, wobei sich das OSF-Gebiet vom Zentrum der Halbleiterscheibe in Richtung zum Rand der Halbleiterscheibe hin bis zum Pv-Gebiet erstreckt; die Halbleiterscheibe besitzt eine OSF-Dichte von weniger als 10 cm-2, eine BMD-Dichte im Inneren von mindestens 3,5 x 108 cm-3 und eine radiale Verteilung der BMD-Dichte mit einer durch den Quotienten BMDmax/BMDmin ausgedrückten Schwankungsbreite von nicht mehr als 3, wobei BMDmax und BMDmin die größte, beziehungsweise die kleinste BMD-Dichte repräsentieren. Gegenstand der Erfindung ist auch ein Verfahren zur Herstellung solcher Halbleiterscheiben.
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申请公布号 |
DE102008046617(A1) |
申请公布日期 |
2010.03.11 |
申请号 |
DE200810046617 |
申请日期 |
2008.09.10 |
申请人 |
SILTRONIC AG |
发明人 |
MUELLER, TIMO;KISSINGER, GUDRUN;HEUWIESER, WALTER;WEBER, MARTIN |
分类号 |
C30B15/00;C30B15/22;C30B29/06;C30B33/02 |
主分类号 |
C30B15/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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