发明名称 | 电子信息装备抗强射频干扰门限值确定方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种电子信息装备抗强射频干扰门限值的方法,通过试验的方法获得小信号、低场强环境下电子信息装备的响应规律,来外推强射频环境下的响应情况,并根据装备的性能参数来确定抗干扰门限值。本发明在现有实验室条件不能模拟强射频环境的情况下能够准确的确定电子信息装备抗强射频干扰门限值,为设备的电磁兼容性能考核及相应国军标的制定提供方法,并且方法简单,易操作。 | ||
申请公布号 | CN101661061A | 申请公布日期 | 2010.03.03 |
申请号 | CN200910272127.8 | 申请日期 | 2009.09.18 |
申请人 | 中国舰船研究设计中心 | 发明人 | 谢大刚;侯冬云;易学勤;张崎;谭辉;喻菁;方重华 |
分类号 | G01R29/08(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人 | 胡建平 |
主权项 | 1、电子信息装备抗强射频干扰门限值的方法,其特征在于:它包括以下几个步骤:步骤1、确定待测装备的工作性能参量;步骤2、分别进行“前门”耦合试验和“后门”耦合试验,在每个试验中频率一定的时候测试干扰途径与待测装备性能参量的对应关系,画出对应关系曲线,并依曲线建立场强与待测装备性能参量之间的影响关系式;步骤3、将步骤2得出的同一频率下“前门”耦合试验的影响关系式与“后门”耦合试验的影响关系式叠加,计算出此频率下的抗强射频干扰门限值。 | ||
地址 | 430064湖北省武汉市武昌区紫阳路268号 |