| 发明名称 | 一种通用电源老化测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种通用电源老化测试系统，属于电子产品的老化测试系统，目的是解决现有电源老化系统存在的通用性、灵活性、实时性和可操作性差的问题，包括承载被测电源的放置机架以及给被测电源供电的供电电源，以及电子负载，作为被测电源的负载；上位机监控子系统，用于接收控制采集子系统的数据，并向控制采集子系统输出测试参数和控制命令；控制采集子系统，分别与被测电源、电子负载和上位机监控子系统连接；用于接收上位机监控子系统的测试参数和控制命令以及被测电源的状态信息；并根据被测电源的状态信息调节电子负载信号从而控制老化测试过程。 | ||
| 申请公布号 | CN101650411A | 申请公布日期 | 2010.02.17 |
| 申请号 | CN200910305077.9 | 申请日期 | 2009.07.31 |
| 申请人 | 迈普通信技术股份有限公司 | 发明人 | 罗文武;李霞;王兴爽 |
| 分类号 | G01R31/40(2006.01)I;G01R31/42(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 | 代理人 | 詹永斌 |
| 主权项 | 1.一种通用电源老化测试系统，包括承载被测电源的放置机架以及给被测电源供电的供电电源，其特征在于，所述系统还包括：电子负载，作为被测电源的负载；上位机监控子系统，用于接收控制采集子系统的数据，并向控制采集子系统输出测试参数和控制命令；控制采集子系统，分别与被测电源、电子负载和上位机监控子系统连接；用于接收上位机监控子系统的测试参数和控制命令以及被测电源的状态信息；并根据被测电源的状态信息调节电子负载从而控制老化测试过程。 | ||
| 地址 | 610041四川省成都市高新区九兴大道16号迈普大厦 | ||