Verfahren und Vorrichtung zur scannenden Induktionsthermographie mit flexiblem Bewegungspfad

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Induktionsthermographie zur zerstörungsfreien Materialuntersuchung. Es sollen große Flächen von Bauteilen einfach untersucht werden können. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass ein Relativbewegen eines Prüfteils (7) zu einer einen Induktor (1) aufweisenden Infrarotkamera (5) entlang eines beliebigen ein- oder mehrdimensionalen Pfades derart erfolgt, dass das Relativbewegen zum Bildaufzeichnen mit der Infrarotkamera (5) frei ist. Eine Zuordnung von Bewegungspfad und Bildaufzeichnung kann nachträglich erfolgen.