发明名称 微影设备,照射系统及过滤系统
摘要 本发明系揭示一种微影设备,包括一照射系统,其配置成适应一辐射束,及一过滤系统,用以将破碎粒子从该辐射束滤除,其中该过滤系统包括复数个薄片,用以捕获该等破碎粒子,其中该复数个薄片之至少一薄片包括至少二部分,其具有一互相不同之定向,且其沿着一大体上直的连线而互相连接,其中各该二部分大体上与一虚拟平面一致,该虚拟平面延伸通过一预设位置,其在使用中意欲大体上与一产生该辐射之来源一致,该直的连线大体上与一也延伸通过该预设位置之虚拟直线一致。
申请公布号 TWI319840 申请公布日期 2010.01.21
申请号 TW094146717 申请日期 2005.12.27
申请人 ASML公司 发明人 亚伦多 康尼司 魏司克
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 陈长文
主权项 一种微影设备,包括:一照射系统,其配置成形成一辐射投射束,其包括:(a)一辐射源,其发射辐射;(b)一过滤系统,用以将破碎粒子从该辐射源发射之该辐射滤除,其中该过滤系统包括复数个薄片,用以捕获该等破碎粒子;及(c)一照射系统,配置成将该辐射源发射之该辐射形成为一适应之辐射束;及一投射系统,配置成将该辐射投射束投射至一基板;其中该复数个薄片之至少一薄片包括至少二部分,其具有一互相不同之定向,且其沿着一大体上直的连线而互相连接,及其中各该二部分大体上与一延伸通过一预设位置之虚拟平面一致,该预设位置意欲大体上与该辐射源一致,该大体上直的连线与一亦延伸通过该预设位置之虚拟直线一致。
地址 荷兰