一种用于优化经过引入像差的元件的波的聚焦的方法

摘要

本发明涉及一种用于优化波在介质[4]的关注区[6]中的聚焦的方法，其中该波由多个源[3]组成的网经过引入像差的元件[5]发射到介质[4]，该引入像差的元件[5]引起初始的不定相移。根据本发明的方法提出使用所发射波的M-1个连续修正，每次修正引起微扰。根据本发明，在相位和/或振幅分布的每次修正时，测量关注区[6]中的M个微扰，这些测量用于推导出用于最大化在关注区[6]中引起的微扰的最优聚焦特性。

主权项

1、一种用于优化波在介质[4]中的关注区[6]中聚焦的方法，其中所述波由N个源[3]组成的网络经过引入像差的元件[5]发射到所述介质[4]，所述引入像差的元件[5]引入初始的不定相移(1≤n≤N)，该方法使用所发射波的M-1个连续修正，每次修正引起微扰，测量M个微扰，这些测量用于推导出最优聚焦特性，所述方法包括以下步骤：a)经由N个源[3]组成的网络发射波(其中j²＝-1)，波表现出空间相位α_n和振幅A_n(1≤n≤N)分布，并且该波传播到所述介质[4]中的关注区[6]；b)对由所述网络中的多个源[3]同时发射波的所述空间相位α_n和/或振幅分布A_n(1≤n≤N)进行M-1(M＞1)次修正，每次修正对应于对所述网络的该多个源[3]的相位和/或振幅的同时修正，且每次修正都引起步骤a)的发射；c)在所述相位α_n和/或振幅分布A_n的每次修正m(1≤m≤M)时，测量在所述关注区[6]中由所述波引起的至少一个微扰I_m(1≤m≤M)；d)从所述微扰测量I_m中推导出使在所述关注区[6]中引起的微扰I_m最大化的最优发射相位分布和/或振幅分布