发明名称 智能数字化电位比电阻测量仪
摘要 本实用新型公开了一种智能数字化电位比电阻测量仪,涉及一种电阻测量仪。电阻测量仪的结构是:被测电阻和标准电阻串联后接入恒流源;第一信号放大器和被测电阻并联,第一信号放大器、第一模/数转换器和第一单片机依次连接,第一单片机分别与显示器、功能键连接;第二信号放大器和标准电阻并联,第二信号放大器、第二模/数转换器和第二单片机依次连接,第二单片机分别与Rs-232接口、USB接口连接;第一单片机和第二单片机相互连接。本实用新型代表了电阻测试仪的发展方向;结构简单、功能强大,是市场更新换代产品;有利于环境保护;广泛应用于计量、质检领域。
申请公布号 CN201382976Y 申请公布日期 2010.01.13
申请号 CN200920084832.0 申请日期 2009.04.10
申请人 武汉市佳信现代仪器有限公司 发明人 曹作群;郑汉鹏;曹辉;肖红清;曾鉴三;陈俊
分类号 G01R27/02(2006.01)I;G01R27/14(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 武汉宇晨专利事务所 代理人 黄瑞棠
主权项 1、一种智能数字化电位比电阻测量仪,其特征在于: 包括恒流源(A),被测、标准电阻(Rx、Rs),第一、二信号放大器(B1、B2),第一、二模/数转换器(ADC1、ADC2),第一、二单片机(CPU1、CPU2),显示器(X),功能键(G),Rs-232接口(J)和USB接口(Z); 被测电阻(Rx)和标准电阻(Rs)串联后接入恒流源(A); 第一信号放大器(B1)和被测电阻(Rx)并联,第一信号放大器(B1)、第一模/数转换器(ADC1)和第一单片机(CPU1)依次连接,第一单片机(CPU1)分别与显示器(X)、功能键(G)连接; 第二信号放大器(B2)和标准电阻(Rs)并联,第二信号放大器(B2)、第二模/数转换器(ADC2)和第二单片机(CPU2)依次连接,第二单片机(CPU2)分别与Rs-232接口(J)、USB接口(Z)连接; 第一单片机(CPU1)和第二单片机(CPU2)相互连接。
地址 430062湖北省武汉市武昌区东亭路10号东亭花园碧竹苑1-901