发明名称 |
PROCEDE ET SYSTEME DE MICROSCOPIE NON-LINEAIRE COHERENTE A MODULATION DE VOLUME FOCAL POUR SONDER LA NANOSTRUCTURATION DE MATERIUAX ORGANISES |
摘要 |
L'invention concerne un procédé de caractérisation dimensionnelle d'un matériau structuré, dans lequel procédé : - on génère un faisceau laser d'excitation adapté à la microscopie non linéaire cohérente ; ce faisceau laser d'excitation étant focalisé dans un volume focal au sein du matériau structuré ; - on détecte des signaux émis par le matériau structuré ; - on élabore une pluralité de diagrammes d'émission correspondant chacune à une forme particulière du volume focal ; les formes particulières étant obtenues pour différents profils spatiaux non gaussien du front d'onde du faisceau laser d'excitation ; et - à partir des diagrammes d'émission ainsi élaborés, on en déduit des caractéristiques dimensionnelles dudit matériau structuré.
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申请公布号 |
FR2933209(A1) |
申请公布日期 |
2010.01.01 |
申请号 |
FR20080054347 |
申请日期 |
2008.06.27 |
申请人 |
ECOLE POLYTECHNIQUE |
发明人 |
BEAUREPAIRE EMMANUEL JEAN MARC;OLIVIER NICOLAS;DEBARRE DELPHINE;SCHANNE KLEIN MARIE CLAIRE;MARTIN JEAN LOUIS |
分类号 |
G02F1/35;G01N21/63;G02B21/00 |
主分类号 |
G02F1/35 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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