发明名称 PROCEDE ET SYSTEME DE MICROSCOPIE NON-LINEAIRE COHERENTE A MODULATION DE VOLUME FOCAL POUR SONDER LA NANOSTRUCTURATION DE MATERIUAX ORGANISES
摘要 L'invention concerne un procédé de caractérisation dimensionnelle d'un matériau structuré, dans lequel procédé : - on génère un faisceau laser d'excitation adapté à la microscopie non linéaire cohérente ; ce faisceau laser d'excitation étant focalisé dans un volume focal au sein du matériau structuré ; - on détecte des signaux émis par le matériau structuré ; - on élabore une pluralité de diagrammes d'émission correspondant chacune à une forme particulière du volume focal ; les formes particulières étant obtenues pour différents profils spatiaux non gaussien du front d'onde du faisceau laser d'excitation ; et - à partir des diagrammes d'émission ainsi élaborés, on en déduit des caractéristiques dimensionnelles dudit matériau structuré.
申请公布号 FR2933209(A1) 申请公布日期 2010.01.01
申请号 FR20080054347 申请日期 2008.06.27
申请人 ECOLE POLYTECHNIQUE 发明人 BEAUREPAIRE EMMANUEL JEAN MARC;OLIVIER NICOLAS;DEBARRE DELPHINE;SCHANNE KLEIN MARIE CLAIRE;MARTIN JEAN LOUIS
分类号 G02F1/35;G01N21/63;G02B21/00 主分类号 G02F1/35
代理机构 代理人
主权项
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