| 发明名称 | 荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种在放射线检测器中，发光强度高、且停止照射X射线后经1～10ms短时间后残光小的荧光材料。以Ce作为发光元素，至少包含Gd、Al、Ga、O及Fe，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，可以用下述通式表示。(Gd<sub>1-x-z</sub>Lu<sub>x</sub>Ce<sub>z</sub>)0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Fe、M的浓度为：0.05≤Fe浓度质量ppm≤1，0≤M浓度质量ppm≤50。 | ||
| 申请公布号 | CN101617023A | 申请公布日期 | 2009.12.30 |
| 申请号 | CN200880003871.1 | 申请日期 | 2008.02.04 |
| 申请人 | 日立金属株式会社 | 发明人 | 中村良平;上田俊介 |
| 分类号 | C09K11/80(2006.01)I;C09K11/00(2006.01)I;C04B35/44(2006.01)I;C04B35/50(2006.01)I;C01G15/00(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I | 主分类号 | C09K11/80(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人 | 齐永红 |
| 主权项 | 1、一种荧光材料，其特征在于：以Ce作为发光元素，至少含有Gd、Al、Ga、O及Fe，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，以下述通式表示：(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12其中：0≤a≤0.15，0≤x≤0.5，0.0003≤z≤0.0167，0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Fe、M的浓度为：0.05≤Fe浓度质量ppm≤1，0≤M浓度质量ppm≤50。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||