发明名称 |
重量检查装置和具有它的重量检查系统 |
摘要 |
本发明提供重量检查装置和具有它的重量检查系统,该重量检查装置能够高精度地计算被检查物的重量。在X射线检查装置(10)中,根据从外部取得的商品(G)的实际重量值和在形成于控制计算机(30)内的各功能块(41~44)中计算出的商品(G)的推定重量,偏差量计算部(45)计算出推定重量与实际重量的偏差的大小。 |
申请公布号 |
CN101611296A |
申请公布日期 |
2009.12.23 |
申请号 |
CN200880004504.3 |
申请日期 |
2008.02.06 |
申请人 |
株式会社石田 |
发明人 |
广瀬修 |
分类号 |
G01G9/00(2006.01)I;G01G23/01(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01G9/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 |
代理人 |
龙 淳 |
主权项 |
1.一种重量检查装置,其检测对被检查物照射的能量波,从而计算所述被检查物的推定重量,该重量检查装置的特征在于,包括:重量值取得部,其取得所述被检查物整体的实际的重量;照射部,其对所述被检查物照射能量波;检测部,其检测对所述被检查物照射的能量波;推定重量计算部,其根据所述检测部的检测结果,计算所述被检查物整体的推定重量;和偏差量计算部,其计算所述实际的重量与所述推定重量的偏差值。 |
地址 |
日本京都府 |