发明名称 SHORT COHERENCE INTERFEROMETRY FOR MEASURING FOR MEASURING SPACINGS
摘要 <p>Es ist eine Kurzkohärenz-Interferometervorrichtung zur Messung mehrerer axial beabstandeter Bereiche (T1, T2) einer Probe (5), insbesondere eines Auges, beschrieben welche einen Meßstrahlengang (3), durch den Meßstrahlung auf die Probe (5) fällt, eine Abstimmungsinterferometereinrichtung (6) zur axialen relativen Verzögerung von Strahlungsteilen, wobei die axiale relative Verzögerung der axialen Beabstandung (L) der Bereiche (T1, T2) zugeordnetes ist, und - eine Detektoreinrichtung zur Erzeugung eines Interferenzsignals aus interferierender von der Probe (5) als Probenstrahlung zurückgestreuter oder -reflektierter Meßstrahlung aufweist, wobei die Abstimmungsinterferometereinrichtung (6) die Probenstrahlung in zwei Strahlungsteile aufteilt, axial relativ verzögert (6) und interferierend überlagert, - wobei die Abstimmungsinterferometereinrichtung (6) bei der Überlagerung Einzelstrahlungen (8) bildet, die Quadraturkomponenten der Probenstrahlung repräsentieren, und die Detektoreinrichtung die Einzelstrahlungen (8) detektiert.</p>
申请公布号 WO2009153005(A1) 申请公布日期 2009.12.23
申请号 WO2009EP04264 申请日期 2009.06.12
申请人 CARL ZEISS MEDITEC AG;HACKER, MARTIN;EBERSBACH, RALF;PABST, THOMAS 发明人 HACKER, MARTIN;EBERSBACH, RALF;PABST, THOMAS
分类号 A61B3/10;G01B9/02 主分类号 A61B3/10
代理机构 代理人
主权项
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