发明名称 相变存储装置及其制造方法
摘要 一种相变存储装置,包括:基板,其包括叠层结构,上述叠层结构包括多个绝缘层和多个导电层,其中任两层相邻的上述导电层被上述多个绝缘层的其中之一隔开;第一电极结构,形成于上述叠层结构上,且上述第一电极结构具有第一侧壁和第二侧壁;多个加热电极,设置于多个上述导电层上,且邻接于上述第一电极结构的上述第一侧壁和上述第二侧壁;以及一对相变材料间隙壁,设置于上述第一电极结构的上述第一侧壁和上述第二侧壁上,且覆盖于上述多个加热电极上。
申请公布号 CN100573950C 申请公布日期 2009.12.23
申请号 CN200610166764.3 申请日期 2006.12.14
申请人 财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 发明人 陈维恕
分类号 H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1.一种相变存储装置,包括:基板,其包括叠层结构,该叠层结构包括多个绝缘层和多个导电层,其中任两层相邻的该导电层被该多个绝缘层的其中之一隔开;第一电极结构,形成于该叠层结构上,且该第一电极结构具有第一侧壁和第二侧壁;多个加热电极,设置于多个该导电层上,且邻接于该第一电极结构的该第一侧壁和该第二侧壁;以及一对相变材料间隙壁,设置于该第一电极结构的该第一侧壁和该第二侧壁上,且覆盖于该多个加热电极上。
地址 中国台湾新竹县