发明名称 |
相变存储装置及其制造方法 |
摘要 |
一种相变存储装置,包括:基板,其包括叠层结构,上述叠层结构包括多个绝缘层和多个导电层,其中任两层相邻的上述导电层被上述多个绝缘层的其中之一隔开;第一电极结构,形成于上述叠层结构上,且上述第一电极结构具有第一侧壁和第二侧壁;多个加热电极,设置于多个上述导电层上,且邻接于上述第一电极结构的上述第一侧壁和上述第二侧壁;以及一对相变材料间隙壁,设置于上述第一电极结构的上述第一侧壁和上述第二侧壁上,且覆盖于上述多个加热电极上。 |
申请公布号 |
CN100573950C |
申请公布日期 |
2009.12.23 |
申请号 |
CN200610166764.3 |
申请日期 |
2006.12.14 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 |
发明人 |
陈维恕 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波 |
主权项 |
1.一种相变存储装置,包括:基板,其包括叠层结构,该叠层结构包括多个绝缘层和多个导电层,其中任两层相邻的该导电层被该多个绝缘层的其中之一隔开;第一电极结构,形成于该叠层结构上,且该第一电极结构具有第一侧壁和第二侧壁;多个加热电极,设置于多个该导电层上,且邻接于该第一电极结构的该第一侧壁和该第二侧壁;以及一对相变材料间隙壁,设置于该第一电极结构的该第一侧壁和该第二侧壁上,且覆盖于该多个加热电极上。 |
地址 |
中国台湾新竹县 |