发明名称 |
在等离子式离子注入中使用改良式遮蔽环的技术 |
摘要 |
揭示一种在等离子式离子注入中使用改良式遮蔽环的技术。在根据本发明一特定例示实施例中,此技术可实现为等离子式离子注入的装置及方法,例如,射频等离子掺杂(RF-PLAD)。此装置及方法可包括:遮蔽环(244),其与目标晶片(120)定位于同一平面上并环绕目标晶片(120)的周围,其中遮蔽环包括用于定义出至少一个孔(246)的面积的孔定义装置;法拉第杯(140),其定位于至少一个孔的下方;以及剂量计数电子设备(142),其连接法拉第杯,以计算离子剂量率。上述至少一个孔的形状可包括为圆形、弧形、缝状、环状、矩形、三角形以及或椭圆形中的至少一种。孔定义装置可包括硅、碳化硅、碳以及或石墨中的至少一种。 |
申请公布号 |
CN101595548A |
申请公布日期 |
2009.12.02 |
申请号 |
CN200780050832.2 |
申请日期 |
2007.12.20 |
申请人 |
瓦里安半导体设备公司 |
发明人 |
提摩太·J·米勒;艾德蒙德·J·温德;哈勒德·M·波辛;维克拉姆·辛;理查德·J·赫尔特 |
分类号 |
H01J37/32(2006.01)I;C23C14/48(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 |
代理人 |
臧建明 |
主权项 |
1、一种等离子式离子注入设备,所述设备包括:遮蔽环,与目标晶片定位于同一平面上并环绕所述目标晶片的周围,其中,所述遮蔽环包括孔定义装置,以定义出至少一个孔的面积;法拉第杯,定位于所述至少一个孔的下方;以及剂量计数电子设备,连接所述法拉第杯,以计算离子剂量率。 |
地址 |
美国麻萨诸塞州 |