发明名称 氮化物半导体发光器件
摘要 本发明公开了一种氮化物半导体发光器件,所述器件包括衬底,以及形成在所述衬底上的第一n型氮化物半导体层、发光层、第一p型氮化物半导体层、第二p型氮化物半导体层、p型氮化物半导体隧道结层、n型氮化物半导体隧道结层和第二n型氮化物半导体层,所述p型氮化物半导体隧道结层和所述n型氮化物半导体隧道结层形成了隧道结,并且所述p型氮化物半导体隧道结层具有比所述第二p型氮化物半导体层的铟含量比率更高的铟含量比率。所述p型氮化物半导体隧道结层和所述n型氮化物半导体隧道结层中的至少一个包括铝。
申请公布号 CN101593805A 申请公布日期 2009.12.02
申请号 CN200910149974.5 申请日期 2007.11.22
申请人 夏普株式会社 发明人 驹田聪
分类号 H01L33/00(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 邱 军
主权项 1.一种氮化物半导体发光器件,包括:衬底;形成在所述衬底上的第一n型氮化物半导体层;形成在所述第一n型氮化物半导体层上的发光层;形成在所述发光层上的p型氮化物半导体层;形成在所述p型氮化物半导体层上的p型氮化物半导体隧道结层;形成在所述p型氮化物半导体隧道结层上的n型氮化物半导体隧道结层;以及形成在所述n型氮化物半导体隧道结层上的第二n型氮化物半导体层;以及其中所述p型氮化物半导体隧道结层和所述n型氮化物半导体隧道结层形成隧道结,并且所述p型氮化物半导体隧道结层和所述n型氮化物半导体隧道结层中的至少一个包括铝;其中所述p型氮化物半导体隧道结层和所述n型氮化物半导体隧道结层中的至少一个的铝含量为不小于1原子百分比且不大于5原子百分比。
地址 日本大阪府