发明名称 |
结构高度低的封装元器件及制造方法 |
摘要 |
为了简化可靠地封装元器件而提议,在芯片和载体基底之间的连接借助连接焊料球来完成,这些焊料球埋在载体基底的凹槽里。此外,元器件直接位于载体基底上,尤其是位于一个围绕着在芯片上的元器件构造的框上。 |
申请公布号 |
CN100561860C |
申请公布日期 |
2009.11.18 |
申请号 |
CN02826401.0 |
申请日期 |
2002.12.11 |
申请人 |
埃普科斯股份有限公司 |
发明人 |
C·霍夫曼;J·波尔特曼;H·克吕格尔 |
分类号 |
H03H3/02(2006.01)I;H03H3/06(2006.01)I;H03H3/08(2006.01)I;H03H9/05(2006.01)I;H03H9/10(2006.01)I |
主分类号 |
H03H3/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
胡 强;赵 辛 |
主权项 |
1、一种元器件,它包括一个芯片(CH)和一个载体基底(TS)的一种布置,其中该芯片布置在该载体基底的顶面上;载体基底具有至少两层,其中顶层和底层由陶瓷制成;在面对载体基底的芯片的底面上布置元器件构造(BS)以及与该元器件构造(BS)电连接的可焊的金属化(LM);在载体基底(TS)的底面上具有外部触点(KO);在载体基底(TS)的顶面上具有凹槽(AN),每个凹槽形成为基底的顶层中的孔;在每个凹槽的底部上,即在载体基底(TS)的底层的顶面上具有可焊的连接面(LA),它电连接到外部触点(KO)之一上;在芯片和载体基底之间设有一个框,该框沿着一个周边线包封元器件构造(BS)和可焊的金属化(LM)的区域;芯片支撑在该框(RA)上使得在芯片、载体基底和框之间形成一个空腔,在该空腔内布置元器件构造(BS)和可焊的金属化(LM);在每个凹槽(AN)里布置焊料球(BU),每个焊料球将可焊的连接面(LA)与对应的可焊的金属化(LM)连接。 |
地址 |
德国慕尼黑 |