发明名称 |
ONU性能劣化的自动诊断和控制方法 |
摘要 |
本发明公开了一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法。所述方法应用于EPON系统中,EPON系统包括OLT、ODN和ONU,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU。本发明提出的控制机制和诊断算法能使EPON系统自动定位和隔离故障点,使管理人员能在复杂条件下远程诊断和维护网络,大大提升了网络的运维水平。 |
申请公布号 |
CN101577584A |
申请公布日期 |
2009.11.11 |
申请号 |
CN200910061155.5 |
申请日期 |
2009.03.17 |
申请人 |
武汉长光科技有限公司 |
发明人 |
刘武;郑直;胡保民 |
分类号 |
H04B10/08(2006.01)I;H04L12/26(2006.01)I |
主分类号 |
H04B10/08(2006.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 |
代理人 |
王 超 |
主权项 |
1.一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法,所述方法应用于EPON系统中,所述EPON系统包括OLT、ODN和ONU,其特征在于,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU。 |
地址 |
430073湖北省武汉市武昌关山二路四号 |