发明名称 ONU性能劣化的自动诊断和控制方法
摘要 本发明公开了一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法。所述方法应用于EPON系统中,EPON系统包括OLT、ODN和ONU,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU。本发明提出的控制机制和诊断算法能使EPON系统自动定位和隔离故障点,使管理人员能在复杂条件下远程诊断和维护网络,大大提升了网络的运维水平。
申请公布号 CN101577584A 申请公布日期 2009.11.11
申请号 CN200910061155.5 申请日期 2009.03.17
申请人 武汉长光科技有限公司 发明人 刘武;郑直;胡保民
分类号 H04B10/08(2006.01)I;H04L12/26(2006.01)I 主分类号 H04B10/08(2006.01)I
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 王 超
主权项 1.一种ONU性能劣化的自动诊断和控制方法,所述方法应用于EPON系统中,所述EPON系统包括OLT、ODN和ONU,其特征在于,包括:110)OLT监控ONU的上行信号,当检测到信号不正常时发出系统告警,同时进入系统诊断模式;120)按照特定策略操作ONU,再对ONU的上行信号进行分析,逐步缩小范围,找出故障ONU;130)隔离发生故障的ONU。
地址 430073湖北省武汉市武昌关山二路四号
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