| 发明名称 | 用于处理和/或分析表示辐射的图像信息的装置和方法 | ||
| 摘要 | 本文介绍了一种用于使用耦合到至少一个检测器(21-24)的光学系统(1)，处理和/或分析以空间分辨方式表示辐射的图像信息的方法。该方法包括通过所述光学系统使用至少一个移动的微机械反射镜(10)，以便图像信息被扫描并按顺序耦合到至少一个检测器(21-24)来收集所述图像信息的步骤。 | ||
| 申请公布号 | CN101573597A | 申请公布日期 | 2009.11.04 |
| 申请号 | CN200680056501.5 | 申请日期 | 2006.11.29 |
| 申请人 | ABB研究有限公司 | 发明人 | K·Y·哈夫纳 |
| 分类号 | G01J5/08(2006.01)I;F23N5/08(2006.01)I;G01J5/60(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 汤春龙;王丹昕 |
| 主权项 | 1.一种用于处理和/或分析图像信息的方法，所述图像信息以空间分辨方式表示辐射，所述方法使用耦合到至少一个光学检测器(21-24)的光学系统(1)，其特征在于所述图像信息由所述光学系统通过至少一个微机械反射镜(10)收集，所述反射镜可机械地、可变地倾斜，使得所述图像信息被所述反射镜(10)扫描并按顺序耦合到所述至少一个检测器(21-24)。 | ||
| 地址 | 瑞士苏黎世 | ||