发明名称 高速可写半导体存储器装置
摘要 存储单元阵列(1)具有连接到字线(WL)和位线(BL)并被设置为矩阵的多个串联的存储单元。选择晶体管(HVNTr)从所述字线中选择。控制电路根据输入数据控制所述字线和位线的电位,并且控制对所述存储单元执行的数据写操作、数据读出操作和数据擦除操作。所述选择晶体管形成在衬底上。对于读出操作,将第一负电压提供给所述衬底,将第一电压(第一电压≥第一负电压)提供给选择的字线,并且将第二电压提供给未选择的字线。
申请公布号 CN100555461C 申请公布日期 2009.10.28
申请号 CN200610131014.2 申请日期 2006.12.22
申请人 株式会社东芝 发明人 柴田昇
分类号 G11C16/10(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 杨晓光;李 峥
主权项 1.一种半导体存储器装置,其特征在于包括:存储单元阵列,具有字线和位线,并且其中多个串联的存储单元被设置为矩阵,为所述存储单元中的每一个设定多个阈值电压中的一个;选择晶体管,从所述字线中选择;以及控制电路,包括字线控制电路、位线控制电路和负电压产生电路,根据输入数据控制所述字线和位线以及衬底的电位,所述控制电路控制对所述存储单元执行的数据写入操作、数据读出操作和数据擦除操作,其中所述选择晶体管形成于所述衬底上,并且对于读出操作,将第一负电压提供给所述衬底,将不小于所述第一负电压的第一电压提供给选择的字线,并且将第二电压提供给未选择的字线。
地址 日本东京都