发明名称 硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统
摘要 本发明涉及一种硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统,其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常,本发明首先依照硬盘的容量获得其总磁道数N;设定磁头第一次搜寻时的磁头摆动的振幅为N,然后依照上述设定驱动磁头在硬盘上做钟摆式搜寻以驱动硬盘状态显示灯闪烁;以及最后判断每次硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。本发明有效降低了硬盘状态显示灯的闪烁频率,更易于检测人员观察其工作状态是否良好,从而提高了对硬盘状态显示灯测试的准确性。
申请公布号 CN100552468C 申请公布日期 2009.10.21
申请号 CN200510129510.X 申请日期 2005.12.05
申请人 英业达股份有限公司 发明人 周翔;陈玄同;刘文涵
分类号 G01R31/44(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G11B20/18(2006.01)I 主分类号 G01R31/44(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 王玉双;潘培坤
主权项 1、一种硬盘状态显示灯的测试方法,其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常,该测试方法包含如下步骤:依照该硬盘的容量获得其总磁道数N;设定一磁头搜寻的最大摆动振幅为该N个磁道,并设定该磁头第一次搜寻时磁头摆动的摆动振幅为该最大摆动振幅,以后每次搜寻的摆动振幅依次递减;依照上述两个设定驱动该磁头在该硬盘上做钟摆式搜寻以驱动该硬盘状态显示灯闪烁;以及判断每次该硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。
地址 中国台湾台北市