| 发明名称 |
Vorrichtung und Verfahren zum Verifizieren eines Chip-Designs und zum Testen eines Chips |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE10196310(B8) |
申请公布日期 |
2009.10.15 |
| 申请号 |
DE20011096310 |
申请日期 |
2001.06.01 |
| 申请人 |
PARK, HYUN-JU;YUN, DONG-GOO |
发明人 |
PARK, HYUN-JU. |
| 分类号 |
G06F17/50;G01R31/3183;G01R31/3187;G01R31/319;G06F11/26 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
