发明名称 |
互补金属氧化物半导体器件 |
摘要 |
提供了一种以低成本和短周期制造的互补MOS半导体器件,该互补MOS半导体器件能够在低电压下工作、并具有低功耗和高速驱动能力,能够实现高速工作的功率控制器件或模拟半导体器件。CMOS的栅电极由单一极性的P型多晶硅或具有P型多晶化物结构形成。PMOS是表面沟道型,因此,能够具有较短的沟道并具有较低的阈值电压。同样,由于采用较小扩散系数的砷作为NMOS中的阈值电压控制的杂质,所以埋置沟道型的NMOS具有非常浅的埋置沟道,因此,能够具有较短的沟道并具有较低的阈值电压。此外,在分压电路或CR电路中采用的电阻器由不同于栅电极的多晶硅组成,因此,就提供了具有高精度的分压电路。因此,实现了高速工作的功率控制半导体器件或模拟半导体器件。 |
申请公布号 |
CN100550386C |
申请公布日期 |
2009.10.14 |
申请号 |
CN02144382.3 |
申请日期 |
2002.09.06 |
申请人 |
精工电子有限公司 |
发明人 |
长谷川尚;小山内润 |
分类号 |
H01L27/092(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;H01L21/8238(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/092(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
傅 康;梁 永 |
主权项 |
1.一种互补MOS半导体器件,包括:SOI衬底;包括在SOI衬底中形成的N型MOS晶体管和在SOI衬底中形成的P型MOS晶体管的互补晶体管对,所述N型MOS晶体管和P型MOS晶体管的每个具有P型栅电极;和在该SOI衬底上邻近所述互补晶体管对提供的一个或多个电阻器,所述电阻器由不同于用来形成N型MOS晶体管和P型MOS晶体管的栅电极的材料形成。 |
地址 |
日本千叶县千叶市 |