芯片验证的预处理方法和预处理装置

摘要

本发明公开了芯片验证的预处理方法和装置。所述方法包括：采用被验证芯片中的硬件算法及其对应的验证算法分别对输入数据进行运算，获得硬件算法执行结果和验证算法执行结果，采用所述环境变量的计算公式对输入数据进行运算，获得输入数据对应的环境变量数据，并根据硬件算法执行结果和验证算法执行结果确定不一致点。将不一致点在输入数据中对应的输入数值以及所述不一致点对应的硬件算法执行结果、验证算法执行结果和环境变量数据确定为预处理结果输出到预处理报告中。本发明适用于图像处理算法的验证，环境变量的计算公式的参数为与当前处理的像素横向和/或纵向相临的像素。使用本发明能够降低芯片验证的复杂程度，提高芯片验证的效率。

主权项

1、一种芯片验证的预处理方法，其特征在于，该方法包括：A0、预先根据被验证芯片中的硬件算法设置环境变量的计算公式；A、采用被验证芯片中的硬件算法及其对应的验证算法分别对输入数据进行运算，获得硬件算法执行结果和验证算法执行结果，采用所述环境变量的计算公式对所述输入数据进行运算，获得输入数据对应的环境变量数据，并根据硬件算法执行结果和验证算法执行结果确定不一致点；B、将所述不一致点在输入数据中对应的输入数值，以及所述不一致点对应的硬件算法执行结果、验证算法执行结果和环境变量数据确定为预处理结果，生成记录所述预处理结果的预处理报告；输入数据中的输入数值为二维图像中的像素；环境变量的计算公式的参数为与当前进行运算的像素横向或纵向相临的像素。