发明名称 |
能谱分辨的X射线成像装置 |
摘要 |
本发明涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。 |
申请公布号 |
CN101557762A |
申请公布日期 |
2009.10.14 |
申请号 |
CN200780046161.2 |
申请日期 |
2007.12.11 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
C·博伊默;R·斯特德曼布克;G·福格特米尔;T·谢尔;C·勒夫 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
王 英;刘炳胜 |
主权项 |
1、一种X射线成像装置(100),尤其是一种CT扫描器,包括a)用于发射具有在既定的观测周期(T)期间连续变化的能谱(P(E,t))的X射线(X)的X射线源(10);b)用于生成多个,即m≥2个辐射采样值(ik)的探测器(20,30),所述辐射采样值表示在所述观测周期(T)内的不同采样间隔(Ik)期间由所述探测器的传感器单元(22)测得的X辐射的量;c)用于确定所述X射线源(10)的与所述m个采样间隔(Ik)相关的有效能谱(Φk(E))的能谱估计单元(51)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |