发明名称 | 加速瑕疵侦测与烧录之方法 | ||
摘要 | 一种加速瑕疵侦测与烧录之方法,系用于一可重复烧录之烧录系统与一可重复烧录之光碟片,于烧录过程中,先侦测目标写入区域是否含有不可靠区域,即瑕疵区域,本发明之加速瑕疵侦测与烧录之方法,其步骤包括有:搜寻至目标写入区域,读取已存在其中之资料并侦测该资料为不可靠之区域;接着,搜寻至目标写入区域并写入欲烧录之资料;判断是否有该不可靠区域存在;若有不可靠区域存在,则将该不可靠区域之欲烧录资料写入一备用区域;及判断是否所有资料皆已烧录完成,若尚未完成,则重复直到所有资料皆已烧录完成。 | ||
申请公布号 | TWI315866 | 申请公布日期 | 2009.10.11 |
申请号 | TW094122453 | 申请日期 | 2005.07.01 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 陈炳盛;陈宏庆 |
分类号 | G11B20/18 | 主分类号 | G11B20/18 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | 一种加速瑕疵侦测与烧录之方法,系用于一有烧录资料之可重复烧录之光碟片,该方法之步骤包括有:a.搜寻至目标写入区域,读取已存在其中之资料并侦测该资料为不可靠之区域;b.搜寻至目标写入区域并写入欲烧录之资料;c.判断是否有该不可靠区域存在;d.若步骤c为是,则将该不可靠区域之欲烧录资料写入一备用区域;及e.判断是否所有资料皆已烧录完成,若尚未完成,则重复步骤a至e,直到所有资料皆已烧录完成。 | ||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区创新一路1之2号5楼 |