DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING AN INDEX OF REFRACTION OF A MEASURED OBJECT

摘要

Ein System (30) zum Bestimmen einer Brechzahl (n (Objekt)) eines Messobjekts (31), mit einer Lichtquelle (32) zum Aussenden von Licht (33) einer vordefinierten Wellenlänge, einem integrierten Sensorelement (35) mit einem optoelektronischen Sensor (36) und einer Schichtstruktur (37) mit wenigstens einer strukturierten Metallschicht (44), wobei der opto-elektronische Sensor (36) und die Schichtstruktur (37) gemeinsam auf einem Halbleitersubstrat (38) integriert sind, einer Einrichtung (39) zum Halten des Messobjekts (31) zwischen dem integrierten Sensorelement (35) und der Lichtquelle (32), so dass die Schichtstruktur (37) zwischen dem Messobjekt (31) und dem optoelektronischen Sensor (36) angeordnet ist, und so dass sich ein Ausgangssignal des opto-elektronischen Sensors (36) auf das Licht (33) mit der vordefinierten Wellenlänge abhängig von der Brechzahl (n(Objekt)) des Messobjekts (31) ändert, und einer Einrichtung (40) zum Ermitteln der Brechzahl (n(Objekt)) des Messobjekts (31) basierend auf dem Ausgangssignal des opto-elektronischen Sensors (36).