发明名称 镀层厚度X荧光光谱仪(Thick860D)
摘要
申请公布号 CN301011852D 申请公布日期 2009.09.16
申请号 CN200830231142.4 申请日期 2008.09.22
申请人 江苏天瑞仪器股份有限公司 发明人 张克涛;刘召贵
分类号 10-04 主分类号 10-04
代理机构 代理人
主权项
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